特許

J-GLOBAL ID：200903065149563970

磁気測定装置用試料台

発明者： 大橋 立行 ,  千吉良 定雄 ,  真田 和夫 ,  藤原 幸一 ,  有島 功一 ,  藤川 勝則
出願人/特許権者： 株式会社フジクラ ,  日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-060706
公開番号（公開出願番号）：特開平5-264556
出願日： 1992年03月17日
公開日（公表日）： 1993年10月12日
要約：

【要約】【目的】 磁界を印加する磁気標識した試料と隣合う磁気標識した試料にまで磁気が漏れることを防止し、磁気測定装置の小型化が可能で、しかも原点出しの作業効率が良い磁気測定装置用試料台を得ること。【構成】 円板18の円周上に磁気標識した試料を満す試料容器19を複数個配置し、隣合う試料容器19の間に位置する円板18部分を切り欠いて切り落し部22を形成した磁気測定装置用試料台13。

請求項（抜粋）：

磁気標識した試料に磁界を印加し、前記磁気標識した試料を濃縮するための磁気測定装置の試料台において、試料台を円板状に形成し、これの円周上に磁気標識した試料を満す試料容器を複数個配置し、隣合う試料容器の間に位置する試料台部分を切り欠いて切り落し部を形成したことを特徴とする磁気測定装置用試料台。

IPC (4件)：

G01N 35/04 ,  A61B 10/00 ,  G01N 33/536 ,  G01N 33/543