特許

J-GLOBAL ID：200903065192335370

絶縁ブロツクの電圧印加試験方法

発明者： 松木 正基 ,  高山 芳郎
出願人/特許権者： 古河電気工業株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-147745
公開番号（公開出願番号）：特開平9-329641
出願日： 1996年06月11日
公開日（公表日）： 1997年12月22日
要約：

【要約】【課題】 本発明は例えば電力ケーブルの接続部等を構成する際に用いられる絶縁ブロツクの単体について、全ての個所に実使用時以上の電界を印加できる試験方法に関するものである。【解決手段】 被試験体絶縁ブロツク1の外側に外周導電体5を設け、該絶縁ブロツク1の比誘電率と等しいかこれよりも大きい比誘電率の固体絶縁体2を外周導電体5の内面に設置し、外周導電体5と被試験体絶縁ブロツク1の内周導電体部3との間に電圧を印加する電圧印加試験方法。

請求項（抜粋）：

被試験体絶縁ブロツクの外側に外周導電体を設け、該絶縁ブロツクの比誘電率と等しいかこれよりも大きい比誘電率の絶縁材料を用い外周導電体の内面に電界強さを調節する固体絶縁体を設置し、前記被試験体絶縁ブロツク外周導電体と被試験体絶縁ブロツクの内周導電体部との間に電圧を印加する電圧印加試験方法。