特許
J-GLOBAL ID：200903065217138361
EMI測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
▲柳▼川 信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-174971
公開番号（公開出願番号）：特開平8-043466
出願日： 1994年07月27日
公開日（公表日）： 1996年02月16日
要約：
【要約】【目的】 EMI測定器において、簡単な構成でかつ全ての方向の放射電磁波を検出する。【構成】 被測定物1の周囲を取り囲むように複数のアンテナ41〜46を設置する。これ等アンテナの出力を全て合成して測定する。各アンテナは直交3軸の偏波面全てを検出できるように3つのループアンテナ素子4x,4y,4zによ構成することで、全ての方向の放射電磁波を漏れなく検出できる。
請求項（抜粋）：
電子機器からの干渉雑音を検出測定するEMI測定装置であって、被測定対象物の電子機器の周囲を取り囲むように配置された複数個の受信アンテナと、これ等受信アンテナの出力を合成する合成手段とを含むことを特徴とするEMI測定装置。
IPC (3件)：
G01R 29/08
, H01Q 3/00
, H01Q 7/00
