特許
J-GLOBAL ID:200903065333425394

画像処理によるひび割れの計測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 松本 雅利
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-019536
公開番号(公開出願番号):特開2003-214827
出願日: 2002年01月29日
公開日(公表日): 2003年07月30日
要約:
【要約】【課題】 精度よくひび割れを把握すること。【解決手段】 計測方法の手順が開始されると、ステップ1で、原画像データが作成される。次のステップ2では、得られた原像データのシェーディング補正が行われる。ステップ3では、原画像データの2値化処理が行われ、ステップ4では、ひび割れ領域Bの抽出が行われる。次のステップ5では、ステップ4でひび割れであると判断された領域Bの、各ピクセルの輝度値を加算して、輝度値合計を求め、これを見掛面積S'1とする。ステップ6では、見掛面積S'1に補正係数k1を乗算して、面積Sを求めて手順が終了する。
請求項(抜粋):
構造物表面などを撮像して、ひび割れ計測の対象となる原画像データを作成し、前記原画像データを画像処理して、前記ひび割れの面積を求めるひび割れの計測方法において、前記原画像データをピクセル毎に2値化した後に、ひび割れ領域を判定し、前記ひび割れ領域内の各画素の輝度値合計を求めて、これを前記ひび割れの見掛面積とし、前記見掛面積から前記ひび割れ面積を求めることを特徴とする画像処理によるひび割れの計測方法。
IPC (5件):
G01B 11/28 ,  G01B 11/02 ,  G01N 21/88 ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 7/60 110
FI (5件):
G01B 11/28 Z ,  G01B 11/02 H ,  G01N 21/88 Z ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 7/60 110
Fターム (44件):
2F065AA21 ,  2F065AA58 ,  2F065BB02 ,  2F065BB26 ,  2F065CC14 ,  2F065FF04 ,  2F065FF41 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ06 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ32 ,  2G051AA90 ,  2G051AB07 ,  2G051CA04 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA16 ,  2G051ED03 ,  2G051ED30 ,  5B057AA20 ,  5B057BA29 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB06 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE12 ,  5B057CH01 ,  5B057DC04 ,  5B057DC16 ,  5B057DC22 ,  5L096BA03 ,  5L096CA02 ,  5L096EA05 ,  5L096EA43 ,  5L096FA02 ,  5L096FA59

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