特許
J-GLOBAL ID：200903065340895851
光学式測長装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
吉井 昭栄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-182549
公開番号（公開出願番号）：特開平8-043032
出願日： 1994年08月03日
公開日（公表日）： 1996年02月16日
要約：
【要約】【目的】 複数の壁面間の距離を測定する出願人の開発した光学式測長装置(例えば特願平5-169355号)の改良し、アスペクト比の大きな被測定物の壁面間の距離測定に秀れる測定方式とすることを目的としている。【構成】 被測定物4の複数の測定壁面P1,P2の距離を測定する光学式測長装置において、被測定物4の一方より被測定物4の壁面に所定の投影像5を与える投影手段8を設け、前記投影像5の鏡像を観察する観察手段9を前記投影手段8とほぼ同一な光軸Z1-Z2上に被測定物を介した他方に設けると共に、前記所定の投影像5がスリット状の透過光を投影するスリット状パターン発生手段8A、或いは微少な点状の透過光を投影する孤立微少パターン発生手段5Bで構成する光学式測長装置。
請求項（抜粋）：
被測定物の複数の測定壁面の距離を測定する光学式測長装置において、被測定物の一方より被測定物の壁面に所定の投影像を与える投影手段を設け、前記投影像の鏡像を観察する観察手段を前記投影手段とほぼ同一な光軸上に被測定物を介した他方に設けると共に、前記所定の投影像がスリット状の透過光を投影するスリット状パターン発生手段で構成されていることを特徴とする光学式測長装置。
IPC (3件)：
G01B 11/02
, G01B 11/12
, G06T 7/00
