特許

J-GLOBAL ID：200903065366015302

機器の診断方法および診断装置

発明者： 寺本 徹夫 ,  東 成昭 ,  足利 貢 ,  杉本 隆雄 ,  永井 勝史 ,  笠 正憲
出願人/特許権者： 川崎重工業株式会社
代理人 (1件)： 曽々木 太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-347694
公開番号（公開出願番号）：特開2001-166824
出願日： 1999年12月07日
公開日（公表日）： 2001年06月22日
要約：

【要約】【課題】 予測精度が向上されるとともに、汎用性を有する機器の診断方法および診断装置を提供する。【解決手段】 状態量の時間的変化が特定のパターンとなるプラントなどの機器において、状態量を状態量検出手段11により検出してその時間微分値を状態量微分値算出手段12により算出し、その算出された状態量の時間微分値がその状態量に対する制限値を超えている場合に異常と診断するものである。

請求項（抜粋）：

状態量の時間的変化が特定のパターンとなる機器に適用される診断方法であって、検出された状態量の時間微分値が、その状態量に対する制限値を超えている場合、異常と診断することを特徴とする機器の診断方法。

Fターム (5件)：

5H223AA01 ,  5H223DD03 ,  5H223EE06 ,  5H223FF02 ,  5H223FF06

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 二重化された検出器を具えた自動制御装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-332372   出願人：東京電力株式会社, 三菱重工業株式会社
• 特開平1-100608