特許

J-GLOBAL ID：200903065376324818

断層画像取得装置

発明者： 辻田 和宏
出願人/特許権者： 富士写真フイルム株式会社
代理人 (2件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-018346
公開番号（公開出願番号）：特開2006-204430
出願日： 2005年01月26日
公開日（公表日）： 2006年08月10日
要約：

【課題】 被検部の表面から数cm程度までの深さ領域の断層画像を取得でき、これらの断層画像を合成して表示した場合に、見易い断層画像を表示可能とする。【解決手段】光断層画像、超音波変調光断層画像および超音波断層画像を取得し、不図示の記憶部へ記憶する。制御部52は、光断層画像から、低深度断層画像(表面から深さ2mm程度まで、解像度数μm)を選択し、超音波変調光断層画像か中深度断層画像(深さ2mm程度から深さ5mm〜10mm程度まで、解像度数十μm)を選択し、超音波断層画像から高深度断層画像(深さ5mm〜10mm程度から30mmまで、解像度数百μm)を選択し、低深度断層画像と中深度断層画像と高深度断層画像とを合成し、合成断層画像を生成して、モニタ70へ出力して表示する。この合成断層画像では、解像度が段階的に変化する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被検部へ第1の光を照射し、前記被検部で反射した前記第1の光の反射光に基づいて前記被検部の光断層画像を取得する光断層画像取得手段と、前記被検部へ第1の超音波を照射し、前記被検部で反射した前記超音波の反射波に基づいて前記被検部の超音波断層画像を取得する超音波断層画像取得手段とを有する断層画像取得装置において、 前記被検部へ第2の光と第2の超音波とを同時に照射し、前記第2の超音波の作用を受けた前記被検部で反射した前記第2の光の超音波変調反射光に基づいて、前記被検部の超音波変調光断層画像を取得する超音波変調光断層画像取得手段を備えたことを特徴とする断層画像取得装置。

IPC (5件)：

A61B 10/00 ,  A61B 1/00 ,  A61B 8/12 ,  G01N 21/17 ,  G01B 11/24

FI (6件)：

A61B10/00 E ,  A61B1/00 300D ,  A61B1/00 300Y ,  A61B8/12 ,  G01N21/17 630 ,  G01B11/24 D

Fターム (47件)：

2F065AA52 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065FF51 ,  2F065GG06 ,  2F065GG24 ,  2F065HH18 ,  2F065LL02 ,  2F065LL04 ,  2F065LL13 ,  2F065LL65 ,  2F065MM16 ,  2F065SS13 ,  2F065UU05 ,  2F065UU07 ,  2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF02 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04 ,  4C061BB08 ,  4C061CC04 ,  4C061HH54 ,  4C061JJ17 ,  4C061WW16 ,  4C061WW20 ,  4C601DE16 ,  4C601EE04 ,  4C601FE01 ,  4C601FE03 ,  4C601FF20 ,  4C601GA01 ,  4C601GA02 ,  4C601JC21 ,  4C601KK12

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 画像診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-355352   出願人：富士写真フイルム株式会社