特許
J-GLOBAL ID:200903065377103815

硬さ測定方法および硬さ測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 穂上 照忠 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-174927
公開番号(公開出願番号):特開2001-004515
出願日: 1999年06月22日
公開日(公表日): 2001年01月12日
要約:
【要約】【課題】構造物の硬さを正確に測定する方法と硬さ測定装置を提供する。【解決手段】?@被測定物の表面に光線を照射し、反射する光線の光軸と照射した光線の光軸とによって被測定物表面の法線方向を確認した後、法線方向から硬さを測定する方法、および?A上下、前後および左右の三方向に移動ならびに回転できる機構を備えた硬さ測定装置であって、三方向に移動および回転できる機構は、基板4の上に左右移動機構5、上下移動機構6および前後移動機構7を積み重ねて組み立てられた三方向調節機構M1と、左右揺動機構8、前後揺動機構9および上下微動機構10を積み重ねて組み立てられた角度調節機構M2とが連結桿11によって連結されて構成され、前記上下微動機構10に設けられた支持機構12は法線確認器Vと硬さ測定器Hとを取り替えて挿入できる貫通孔12-1を備えた硬さ測定装置。
請求項(抜粋):
被測定物の表面に光線を照射し、反射する光線の光軸と前記照射した光線の光軸とによって被測定物表面の法線方向を確認した後、法線方向から硬さを測定することを特徴とする硬さ測定方法。
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 面方位測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-319902   出願人:ホーヤ株式会社

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