特許

J-GLOBAL ID：200903065379032630

プラント制御装置およびその試験システム

発明者： 野村 正道
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 児玉 俊英
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-155730
公開番号（公開出願番号）：特開2001-337189
出願日： 2000年05月26日
公開日（公表日）： 2001年12月07日
要約：

【要約】【課題】 膨大な時間と手間がかかるシステムRAS試験を短時間で効率よく実施できるプラント制御装置を得る。【解決手段】 制御装置共通保守ツール7のS/W部7a1からの試験開始通知を受けて、予め保持したシステムRAS試験項目に従って、試験対象のPIOカード10bに対して故障発生要因を模擬的に出力するCPUカード9aのS/W部9a1と上記PI0カード10bにおいて上記故障発生要因に対する故障表示を行うS/W部10b1とを備え、上記CPUカード9aのS/W部9a1は、上記故障表示から所定の時間経過後、模擬故障状態から正常状態へ自動復帰する。

請求項（抜粋）：

プラントの監視・制御を行うプラント制御装置と、該プラント制御装置内部の試験対象部位の動作試験を確認するための保守ツールとから構成されるプラント制御装置の試験システムにおいて、予め保持したシステムRAS試験項目に従って、上記試験対象部位に対して故障発生要因を模擬的に出力する故障発生要因出力手段、該特定部位において、上記出力された故障発生要因に対する故障表示を行う故障発生手段、および上記故障発生手段による故障表示から所定の時間後に模擬故障状態から正常状態に復帰する手段を上記プラント制御装置内部に備えたことを特徴とするプラント制御装置の試験システム。

IPC (3件)：

G21C 17/00 ,  G05B 23/02 ,  G05B 23/02 301

FI (5件)：

G05B 23/02 E ,  G05B 23/02 301 V ,  G05B 23/02 301 Y ,  G21C 17/00 W ,  G21C 17/00 P

Fターム (18件)：

2G075AA01 ,  2G075BA03 ,  2G075BA16 ,  2G075CA49 ,  2G075DA18 ,  2G075FA07 ,  2G075FB08 ,  2G075FC04 ,  2G075FD01 ,  2G075GA15 ,  2G075GA16 ,  2G075GA17 ,  5H223AA01 ,  5H223BB01 ,  5H223CC08 ,  5H223DD09 ,  5H223EE30 ,  5H223FF05