特許
J-GLOBAL ID:200903065404112635

粘着偏光フィルムの欠陥検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-295558
公開番号(公開出願番号):特開平7-146253
出願日: 1993年11月25日
公開日(公表日): 1995年06月06日
要約:
【要約】【目的】 本発明は、粘着偏光フィルムにおける粘着剤層の欠陥を簡単な処理で精度良く検出する欠陥検査装置を提供することを目的とする。【構成】 被検査物Aを撮像するカメラ10を囲むようにリング型出射口8が配置される。リング型出射口8は光ファイバ7を介して光源6に接続されていて、光源6の発する光は光ファイバ7を通じてこのリング型出射口8から照射される。また、カメラ10には、2値化部12と判定部13から構成される画像処理部11が接続されている。そして、リング型出射口8の前面には、偏光フィルタ9が、被検査物Aに含まれる偏光フィルム3の偏光方向と異なる方向に偏光するように設置される。一方、被検査物Aには、少なくとも、ガラス基板1に、粘着剤層2と偏光フィルム3からなる粘着偏光フィルムが貼着されている。
請求項(抜粋):
透光性を有する基板と該基板に貼着される粘着偏光フィルムを含んだ被検査物の基板面に向けて光を照射する照明手段と、前記被検査物と前記照明手段の間に配置され、照明手段の照射する光を被検査物の粘着偏光フィルムの偏光方向と異なる方向に偏光する偏光部材と、前記被検査物からの反射光を撮像する撮像手段と、該撮像手段によって撮像された画像から前記粘着偏光フィルムの粘着剤層の発泡欠陥を検出する画像処理手段とを具備することを特徴とする粘着偏光フィルムの欠陥検査装置。
IPC (2件):
G01N 21/88 ,  G01B 11/30

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