特許
J-GLOBAL ID:200903065418930772
微小角度X線断層撮影装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
石田 敬 (外3名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-535262
公開番号(公開出願番号):特表2002-505903
出願日: 1999年02月17日
公開日(公表日): 2002年02月26日
要約:
【要約】本発明は、小角度散乱放射線による対象物の画像を得るコンピューターを伴なった断層撮影装置に関する。散乱は注いでいるビーム方向に対し角度で0度から1度の微小角度で記録される。前述の角度における干渉性散乱の記録のために、一連の構成が使用されている。コリメーターを用いて形成される扇形ビームは、小さな広がりを有していて、対象物に投射される。一つの実施の形態における装置において、微小角度における散乱放射線の分離のために、特殊な三次元フィルターが対象物の背後に配置されている。このフィルターはコリメーターと同様な構造を有していて、コリメーターの放射線通過領域がフィルターの放射線を通さない領域に重なっている。三次元空間位置検出器がフィルターの背後に配置されていて、対象物がない場合、放射線は検出器に到達しない。
請求項(抜粋):
小角度X線断層撮影装置が、 透過放射線源と、対象物に投射する放射線の流れを一つまたは複数の細くて少なくとも一方向に広がりが小さなビーム形状に形成するコリメーターと、小角度における干渉性散乱放射線の記録を行なう座標検出器と、集合体“放射源-コリメーター-検出器”と対象物とを相対的に移動するための装置と、該座標検出器から得られた情報を処理する計算システムとを含んでいて、 該対象物と該座標検出器との間に配置された空間フィルターが、微小角度における該対象物による該散乱放射線を投射しているビーム方向に対し分離することを特徴としている、 ところの小角度X線断層撮影装置。
IPC (8件):
A61B 6/03 370
, A61B 6/03 320
, A61B 6/03
, G01N 23/04
, G01N 23/06
, G01N 23/201
, G01T 7/00
, G21K 1/02
FI (8件):
A61B 6/03 370 Z
, A61B 6/03 320 H
, A61B 6/03 320 M
, G01N 23/04
, G01N 23/06
, G01N 23/201
, G01T 7/00 B
, G21K 1/02 C
Fターム (33件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001BA14
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA02
, 2G001DA09
, 2G001EA06
, 2G001HA14
, 2G001LA01
, 2G001SA02
, 2G088EE02
, 2G088FF02
, 2G088GG19
, 2G088GG20
, 2G088JJ05
, 2G088JJ08
, 2G088JJ12
, 2G088KK33
, 4C093AA30
, 4C093BA03
, 4C093BA08
, 4C093BA10
, 4C093BA13
, 4C093CA27
, 4C093CA31
, 4C093CA34
, 4C093EA06
, 4C093EA12
, 4C093EB17
, 4C093EB18
, 4C093EB30
, 4C093FC15
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