特許
J-GLOBAL ID:200903065421806080
磁気センサに印加された磁場を評価する方法及び装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
伊東 忠彦
, 大貫 進介
, 伊東 忠重
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-547765
公開番号(公開出願番号):特表2008-525789
出願日: 2005年12月20日
公開日(公表日): 2008年07月17日
要約:
本発明は、高感度方向を有する複数の磁気センサ素子を有する磁気センサ装置に関する。磁気センサ素子(43)のうちの少なくとも1つには磁束ガイド(44)が供される。前記磁束ガイド(44)は、磁場を磁気センサ装置に印加される高感度方向でセンサ素子に集中させる。よって印加磁場は、磁束ガイドによって磁気センサ素子の高感度方向へ曲げられる。このようにして、その印加磁場の磁場強度及び/又は方向は、磁性粒子がなくても測定できる。これはたとえば、磁気センサ装置の校正に用いることができる。
請求項(抜粋):
磁性粒子を定性的又は定量的に検出する磁気センサ装置であって、
当該磁気センサ装置は複数の磁気センサ素子を有し、
前記複数の磁気センサ素子の各々は高感度方向を有し、
少なくとも1つの磁気センサ素子には磁束ガイドが付随し、
該磁束ガイドは、当該磁気センサ装置に印加される磁場を、付随するセンサ素子へ前記高感度方向に集中させる、
磁気センサ。
IPC (1件):
FI (2件):
G01R33/02 V
, G01R33/02 X
Fターム (5件):
2G017AA13
, 2G017AC07
, 2G017AD55
, 2G017CB01
, 2G017CB20
引用特許:
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