特許
J-GLOBAL ID：200903065462223994
レイアウト検証装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-164615
公開番号（公開出願番号）：特開平7-021246
出願日： 1993年07月02日
公開日（公表日）： 1995年01月24日
要約：
【要約】【目的】 半導体装置内の個々の配線に対応した必要最小線幅をもとにエレクトロマイグレーションの影響を検証するレイアウト検証装置を得る。【構成】 脈流の周期の種類毎に許容電流量を保持する手段、電気回路の配線情報と電気素子情報とからなる回路情報を保持する手段、上記回路情報をもとに検証対象の配線毎に最大電流量を算出する手段、上記複数の許容電流量の中から検証対象の配線の条件を加味した周期に対応する許容電流量を決定する手段、算出された上記最大電流量および上記許容電流量から検証対象の配線の必要最小線幅を算出する手段、および検出したエラーの箇所を画面上に表示する手段を備えている。【効果】 精度の高い検証が行えるとともに、作業効率が向上する。
請求項（抜粋）：
半導体装置のチップを構成する電気回路の配線が、エレクトロマイグレーションを回避するための最小線幅(以下必要最小線幅という)を満足しているか否かを検証するレイアウト検証装置において、脈流の周期の種類毎に、上記電気回路の配線が許容し得る電流量の最大値(以下許容電流量という)を保持する手段、上記電気回路の配線情報と電気素子情報とからなる回路情報を保持する手段、上記回路情報をもとに検証対象の配線毎に瞬時に流れる電流の最大値(以下最大電流量という)を算出する手段、上記複数の許容電流量の中から検証対象の配線の条件を加味して得られた周期に対応する許容電流量を決定する手段、および算出された上記最大電流量および上記許容電流量から検査対象の配線の必要最小線幅を算出する手段を備え、配線毎にエレクトロマイグレーションの影響を検証することを特徴とするレイアウト検証装置。
FI (2件)：
G06F 15/60 360 D
, G06F 15/60 370 K
