特許

J-GLOBAL ID：200903065500848553

残留塩素計の校正方法および残留塩素計

発明者： 山口 登 ,  河本 公太郎
出願人/特許権者： 京都電子工業株式会社 ,  株式会社クボタ
代理人 (1件)： 森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-097226
公開番号（公開出願番号）：特開平9-288083
出願日： 1996年04月19日
公開日（公表日）： 1997年11月04日
要約：

【要約】【課題】 検出電極と対極とを設けた容器に被検査液を流通させ、一定電圧を印加した時の電流値を残留塩素濃度として認識するように構成した残留塩素計を校正するに際し、一般校正法でも標準液校正法と同等に校正できるようにする。【解決手段】 容器4内に塩素を含まないゼロ標準液S1 を流通させて、その時の電流値ibを記憶しておく。容器4内を空とした入力オープン状態で電流の大きさを計測し、計測した電流値icに先に記憶した電流値ibを加算し、電流値(ib+ic)を塩素濃度ゼロに対応させる。

請求項（抜粋）：

内部に検出電極と対極とを設けた容器に一定方向に被検査液を流通させ、容器内の被検査液を攪拌しつつ、検出電極と対極との間に一定電圧を印加して、印加時の電流の大きさを電流計により計測し、計測した電流値を残留塩素濃度として認識するように構成した残留塩素計を校正するに際し、前記容器内に塩素を含まないゼロ標準液を予め流通させて、その時の電流値を記憶しておき、容器内を空とした入力オープン状態においてゼロ校正を行うときに、入力オープン状態で電流の大きさを計測して、計測した電流値に先に記憶した電流値を加算し、加算した電流値を塩素濃度ゼロに対応させることを特徴とする残留塩素計の校正方法。

IPC (2件)：

G01N 27/416 ,  G01N 27/26 381

FI (2件)：

G01N 27/46 316 Z ,  G01N 27/26 381 A