足の形測定装置及び測定方法

発明者： , ,
出願人/特許権者： , ,
代理人 (1件)：森田憲一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-287970
公開番号（公開出願番号）：特開2002-172104
出願日： 2001年09月21日
公開日（公表日）： 2002年06月18日
要約：

【要約】【課題】短時間内に足裏及び/または上側部の形状をスキャニングして足の形状に対するピクセルデータを生成し、生成されたピクセルデータを利用して足の主な寸法及び最終設計に必要な情報を計算する足の形測定装置及び測定方法を提供する。【解決手段】本発明は、ユーザが足を載せることのできる基板が具備され、前記基板に載せられた足に光を照射し反射される光の情報を分析して足の形状に対するピクセルデータを生成して、外部に伝送する足のデータ生成手段と、前記足のデータ生成手段から伝送されたピクセルデータをラインスキャンアルゴリズム及び/またはステレオビジョンアルゴリズムで分析して足のイメージを生成する画像処理手段とを含む。

請求項（抜粋）：

ユーザが足を載せることのできる基板が具備され、前記基板に載せられた足に光を照射し反射される光の情報を分析して足の形状に対するピクセルデータを生成して、外部に伝送する足のデータ生成手段と、前記足のデータ生成手段から伝送されたピクセルデータをラインスキャンアルゴリズム及び/またはステレオビジョンアルゴリズムで分析して足のイメージを生成する画像処理手段とを含むことを特徴とする足の形測定装置。

IPC (2件)：

A61B 5/117 , A43D 1/02

FI (2件)：

A43D 1/02 , A61B 5/10 320 D

Fターム (10件)：

4C038VA04 , 4C038VB14 , 4C038VB16 , 4C038VC01 , 4F050AA01 , 4F050AA06 , 4F050KA08 , 4F050LA01 , 4F050LA02 , 4F050NA86

引用特許：

審査官引用 (4件)

特表平5-507630
特表平5-506369
特表平5-507211

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