特許
J-GLOBAL ID：200903065657807281
光学材料の内部散乱測定装置及び測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-086222
公開番号（公開出願番号）：特開平10-281990
出願日： 1997年04月04日
公開日（公表日）： 1998年10月23日
要約：
【要約】【課題】 300nm以下の紫外光を十分透過し、且つ散乱係数が既知の物質が無いこと及び散乱の角度依存性を考慮できない事から、従来の測定方法では、300nm以下における適当な基準物質が無く、内部散乱強度を測定することができなかった。【解決手段】 測定材料の形状を多角柱または円柱とし、これを積分球内部に配置することにより、全方向の散乱光を検出する。
請求項（抜粋）：
内部に多角柱または円柱形状の測定試料を保持することが可能な積分球と、該積分球内部に保持された測定試料に光が入射されたときに積分球内部に発生する散乱光を検出することが可能な光検出器と、測定試料からの散乱光が光検出器に直接入射するのを防ぐための反射板と、からなる光学材料の内部散乱光測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/49 Z
, G01J 1/02 F
