特許
J-GLOBAL ID：200903065676841938
変位計測方法及び変位計測装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
高良 尚志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-017713
公開番号（公開出願番号）：特開平11-201752
出願日： 1998年01月14日
公開日（公表日）： 1999年07月30日
要約：
【要約】【課題】 岩盤等の計測対象における計測点を任意に選ぶことができ、従来の機器では設置し難かった場所や人が近づくことのできない対象物でもその変位を求めることができ、低コストで計測対象における面的変位分布を容易且つ迅速に精度良く求めることができる。【解決手段】 計測対象の変位の前後それぞれにおいて、複数の位置から各基準計測点を含む計測対象を撮影して複数の写真画像を得、変位の前後における写真画像上の基準計測点の座標に基づき任意の変位計測点の三次元座標をそれぞれ算出してその変位を求める。
請求項（抜粋）：
計測対象の変位の前後それぞれにおいて、複数の位置から各基準計測点を含む計測対象を撮影して複数の写真画像を得、変位の前後における写真画像上の基準計測点の座標に基づき任意の変位計測点の三次元座標をそれぞれ算出してその変位を求めることを特徴とする変位計測方法。
IPC (6件)：
G01C 11/06
, E21D 9/06 301
, G01B 11/00
, G01B 11/24
, G01C 7/06
, G01D 21/00
G01C 11/06
, E21D 9/06 301 F
, G01B 11/00 H
, G01B 11/24 K
, G01C 7/06
, G01D 21/00 D
