特許
J-GLOBAL ID:200903065686067289
電子部品の製造方法および製造装置
発明者:
,
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小川 勝男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-016622
公開番号(公開出願番号):特開2000-218517
出願日: 1999年01月26日
公開日(公表日): 2000年08月08日
要約:
【要約】【課題】電子部品のCMP工程において、製品のスクラッチを低減し、研磨レートの安定化かつ面内均一性向上を実現する。【解決手段】研磨パッドの回転方向にスラリー供給、研磨、パッドコンディショニング、物理洗浄の順に処理を行い、これを繰り返す。物理洗浄には2流体スプレーもしくは超音波スプレーもしくはPVAスポンジスクラブのいずれか1つ、または2つ以上の組み合わせを用いる。
請求項(抜粋):
電子部品のCMP(Chemical Mechanical Polishing)工程において、研磨パッドの回転方向にスラリー供給、研磨、パッドコンディショニング、物理洗浄の順に処理を行い、これを繰り返すことを特徴とする電子部品の製造方法。
IPC (2件):
B24B 37/00
, H01L 21/304 622
FI (2件):
B24B 37/00 K
, H01L 21/304 622 M
Fターム (9件):
3C058AA07
, 3C058AA09
, 3C058AA19
, 3C058AC04
, 3C058AC05
, 3C058BA02
, 3C058CB03
, 3C058CB06
, 3C058DA12
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