特許
J-GLOBAL ID：200903065711076131
液晶粘弾性測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西澤 利夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-055740
公開番号（公開出願番号）：特開平5-256754
出願日： 1992年03月13日
公開日（公表日）： 1993年10月05日
要約：
【要約】【目的】 配向弾性定数と粘性定数とを正確に測定する。【構成】 配向液晶セルへのレーザー光照射手段および散乱光のスペクトル幅の計測手段とともに光子相関分光による高精度散乱光強度計測手段を備え、スペクトル幅と強度とから粘弾性定数を決定する。また、入射光の一部をビームスプリッターにより取り出し、光子相関分光用データ取り込み時間内の入射光強度をモニターし、これをフィードバックする手段を備え、散乱光強度の散乱ジオメトリー依存性を光子相関分光により計測する。パロディー関係式を使用し、または使用することなく、粘弾性定数を決定する。
請求項（抜粋）：
配向液晶セルへのレーザー光照射手段および散乱光のスペクトル幅の計測手段とともに光子相関分光による高精度散乱光強度計測手段を備え、スペクトル幅と強度とから粘弾性定数を決定することを特徴とする液晶粘弾性測定装置。
IPC (3件)：
G01N 11/00
, G01N 21/49
, G02F 1/13 101
