特許
J-GLOBAL ID:200903065822703291

吸光度測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小林 良平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-335115
公開番号(公開出願番号):特開平6-160280
出願日: 1992年11月20日
公開日(公表日): 1994年06月07日
要約:
【要約】【目的】 非常に吸光度の高い試料でも、懸濁物の堆積等の問題なく測定することのできる、新しい形式の透過型吸光度測定装置。【構成】 入射側透明体51と出射側透明体52でV字形の溝を作成し、その溝に流体試料53を入れる。両透明体51、52が接する部分には遮光壁54を設ける。V字型の先端を含む部分に平行光束55を通過させ、その透過光量を測定して、所定の簡単な式により試料53の吸光係数εを算出する。
請求項(抜粋):
a)測定光に対して透明な物質で作製された、平面を有する透明体であって、該平面において流体試料と接するように配置された入射側透明体と、b)測定光に対して透明な物質で作製された、平面を有する透明体であって、該平面において流体試料と接し、また、該平面が入射側透明体の上記平面と交差するように配置された出射側透明体と、c)上記交差線よりも透明体側において測定光を遮断する遮光壁と、d)入射側透明体を通して流体試料に平行な測定光束を入射する光源と、e)入射側透明体、流体試料及び出射側透明体を通過した測定光束の光量を測定する透過光量測定手段と、f)標準試料と未知試料の光量測定値より、未知試料の吸光度を算出する吸光度算出手段とを備えることを特徴とする吸光度測定装置。

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