特許
J-GLOBAL ID:200903065826699329

実装基板検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 青木 輝夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-080886
公開番号(公開出願番号):特開平8-247736
出願日: 1995年03月14日
公開日(公表日): 1996年09月27日
要約:
【要約】【目的】 ハンダ部位等の鏡面を有する部分の情報と実装部品等の乱反射面を有する部分の情報を正確に検出できる実装基板検査装置を提供すること。【構成】 投光部1の赤色光源6、緑色光源7、青色光源8、および白色光源9によって実装基板の被検査部位を照射し、この被検査部位からの反射光像を撮像部2によって撮像して得られたカラー画像を制御処理部5に送り、制御処理部5によって、このカラー画像から、赤色光、緑色光、青色光の各反射光による彩色部分を検出することによってハンダ部等の鏡面を有する部分の三次元形状情報を検出するとともに、白色光照射による反射光によってその信号レベルが十分に大きい実装部品等の乱反射面を有する部分の平面情報を検出し、この両情報に基づいて、被検査部位の良否判定を行う構成。
請求項(抜粋):
部品実装基板の部品実装状態の検査において、検査部位に投光し、この検査部位を撮像して得られる画像に基づいて実装状態の良否を判定する実装基板検査装置であって、リング状の白色光源を有し、この白色光を検査部位に投光する第一の投光手段と、リング状の有色光源を有し、この有色光を斜め方向から検査部位に投光する第二の投光手段と、を具備することを特徴とする実装基板検査装置。
IPC (3件):
G01B 11/24 ,  G01N 21/88 ,  H05K 13/08
FI (3件):
G01B 11/24 C ,  G01N 21/88 F ,  H05K 13/08 U

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