特許
J-GLOBAL ID:200903065875858300
実装部品検査方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
長谷川 芳樹
, 塩田 辰也
, 寺崎 史朗
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-210130
公開番号(公開出願番号):特開2004-053369
出願日: 2002年07月18日
公開日(公表日): 2004年02月19日
要約:
【課題】画像に基づく被検査基板の検査を効率良く行うことのできる実装部品検査方法を提供する。【解決手段】実装部品検査装置1の処理装置5においては、被検査基板Sをカメラ3により撮像してその画像を取得し、検査領域を示すマスク画像に基づいて、被検査基板Sの画像から検査領域に対応する領域を抽出して被検査画像を作成する。この被検査画像を検査基準であるマスタ画像と比較することによって、被検査基板Sにおける実装部品の欠品等を検査することが可能になる。そして、この検査を行う前には、検査基準となるマスタ基板をカメラ3により撮像してその画像を取得し、マスク画像に基づいて、マスタ基板の画像から検査領域に対応する領域を抽出することによって、検査基準となるマスタ画像を極めて簡易に作成することができる。以上により、画像に基づく被検査基板Sの検査を効率良く行うことが可能になる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
実装部品が実装された被検査基板を検査する実装部品検査方法であって、
検査基準となる基準実装部品が実装されたマスタ基板を撮像してその画像を取得する工程と、
前記マスタ基板が撮像された画像と、前記基準実装部品が実装される領域を検査領域として示すマスク画像とに基づいて、前記マスタ基板が撮像された画像における前記検査領域に対応する領域を抽出したマスタ画像を作成する工程と、
前記被検査基板を撮像してその画像を取得する工程と、
前記被検査基板が撮像された画像と前記マスク画像とに基づいて、前記被検査基板が撮像された画像における前記検査領域に対応する領域を抽出した被検査画像を作成する工程と、
前記マスタ画像と前記被検査画像との比較を行う工程とを備えることを特徴とする実装部品検査方法。
IPC (5件):
G01N21/956
, G01B11/24
, G06T1/00
, G06T7/00
, H05K13/08
FI (6件):
G01N21/956 B
, G06T1/00 305A
, G06T7/00 300E
, H05K13/08 U
, G01B11/24 K
, G01B11/24 A
Fターム (47件):
2F065AA54
, 2F065CC28
, 2F065DD06
, 2F065FF04
, 2F065GG17
, 2F065HH14
, 2F065JJ03
, 2F065JJ09
, 2F065JJ19
, 2F065PP11
, 2F065QQ04
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ31
, 2F065RR09
, 2F065SS04
, 2F065SS13
, 2G051AA65
, 2G051AB14
, 2G051BA20
, 2G051CA03
, 2G051CA04
, 2G051DA07
, 2G051DA15
, 2G051EA08
, 2G051EA11
, 2G051EA14
, 2G051EB01
, 2G051EB02
, 2G051ED07
, 2G051FA10
, 5B057AA03
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CE09
, 5B057DA08
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC04
, 5B057DC32
, 5L096AA06
, 5L096BA03
, 5L096EA35
, 5L096FA59
, 5L096GA08
, 5L096HA07
引用特許:
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