特許

J-GLOBAL ID：200903065879495903

分光分析サンプルホルダー

発明者： ギャグノン,デビッド アール. ,  パイパー,リチャード エム. ,  アイスタ,ジェームズ イー.
出願人/特許権者： ミネソタ マイニング アンド マニュファクチャリング カンパニー
代理人 (1件)： 石田 敬 (外4名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-525196
公開番号（公開出願番号）：特表2001-511882
出願日： 1996年12月12日
公開日（公表日）： 2001年08月14日
要約：

【要約】分光学的に分析するサンプルを保持する装置は、サンプルを限定された領域内に保持する。装置は、その上にサンプルを保持する受け入れ手段を含む。この受け入れ手段がフレーム(任意の機構)に装着される場合、それはフレームの開口部を越えて広がる。受け入れ手段内/上には、受け入れ手段上にのせたあらゆるサンプルが、限定された領域外に移動しないように保持するサンプル封入手段がある。サンプルを限定された領域内に保持することで、サンプルの定量測定が得られる。

請求項（抜粋）：

1. a) サンプルを受け入れる多孔質手段と、 b) 前記受け入れ手段の所定部分内にあり、前記受け入れ手段内または上の少なくとも1つの前記サンプルの封入手段を含み、前記封入手段が 1) 無孔であり、 2) 前記所定部分を取り囲んで限定し、 c) 要すれば、上面と、下面と、前記上面から前記下面を通ってのびる少なくとも1つの開口部とを含むフレームを含み、前記サンプル受け入れ手段が前記フレーム内に保持されて、前記開口部を超えてのびる分光学的に分析するサンプルを保持する装置。 2. 前記受け入れ手段が、複数の遮蔽されない開口部を含むスクリーンであり、前記各開口部の断面積が、前記サンプルが前記スクリーン上に、前記サンプルの表面張力によって保持されるようになっている請求項1に記載の装置。 3. 前記受け入れ手段が、細孔シートである請求項1に記載の装置。 4. 前記細孔シートが、ポリマーを含む請求項3に記載の装置。 5. 前記ポリマーが、ポリエチレン、ポリプロピレン、コポリ(エチレン-プロピレン)、ポリテトラフルオロエチレン、ポリ(塩化ビニル)、ポリカーボネート、ポリ(フッ化ビニリデン)、硝酸セルロース、ポリ(クロロトリフルオロエチレン)、ポリエステル、またはナイロンである請求項4に記載の装置。 6. 前記封入手段が、前記細孔シート中のエンボス圧縮である請求項3に記載の装置。 7. 前記受け入れ手段が、2つ以上の前記所定部分を含む請求項1に記載の装置。 8. a) 請求項1〜7のいずれかの装置の所定部分に適用して、任意に乾燥した、または乾燥させたサンプルに赤外線放射を透過するステップと、 b) 前記サンプルおよび前記受け入れ手段を透過した放射を分析するステップを含むサンプルを分光学的に分析する方法。 9. 前記サンプルをその上に適用する前に、前記装置の基線透過率を測定するステップをさらに含む請求項8に記載の方法。 10.前記受け入れ手段の前記所定部分を通して、前記サンプルを含有するストリームを濾過することで、前記サンプルを前記装置に適用する請求項8に記載の方法。

IPC (8件)：

G01N 21/01 ,  G01N 21/33 ,  G01N 21/35 ,  G01N 21/64 ,  G01N 21/65 ,  G01N 33/483 ,  G01N 23/20 ,  G01N 23/223

FI (8件)：

G01N 21/01 B ,  G01N 21/33 ,  G01N 21/35 Z ,  G01N 21/64 Z ,  G01N 21/65 ,  G01N 33/483 C ,  G01N 23/20 ,  G01N 23/223