特許
J-GLOBAL ID：200903065958265913
実装基板外観検査方法およびその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-090512
公開番号（公開出願番号）：特開平5-288527
出願日： 1992年04月10日
公開日（公表日）： 1993年11月02日
要約：
【要約】【目的】 はんだ付け部等の被検査部の形状を検出して検出精度を向上させるようにした実装基板外観検査方法およびその装置を提供する。【構成】 LED6a〜6dを有する照明手段4をドーム状に形成し、照射された光がプリント基板1上の電子部品2のはんだフィレット3部に集光し得るように設ける。LED6a〜6dを90度毎に配置し、個別に点灯させる。複数の照射方向の異なるはんだフィレット3部の反射光像をテレビカメラ7により撮像する。反射光像は、照射方向とはんだフィレット3の立体形状に応じて変化するので、これらの像を個々に画像処理してはんだフィレット3部が有する曲面要素の配向性を検出し、処理情報を総合してはんだフィレット3部の良、不良を判定する。
請求項（抜粋）：
被検査物を異なった複数の方向から順次照明し、その都度得られる画像の特徴から総合して良、不良を判定する実装基板外観検査方法。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, G01N 21/84
, G01N 21/88
, H01L 21/66
