特許
J-GLOBAL ID：200903065976832299

画像処理方法,画像処理システムおよび補正データ作成方法

発明者：
河田 東輔

河田 東輔 について


出願人/特許権者：
富士機械製造株式会社

富士機械製造株式会社 について


代理人 (1件)： 神戸 典和 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-344186
公開番号（公開出願番号）：特開2001-160135
出願日： 1999年12月03日
公開日（公表日）： 2001年06月12日
要約：
【要約】【課題】撮像対象物を複数の撮像範囲に分けて撮像し、それぞれ取得された画像データを補正してつなぐことにより、撮像対象物の像を良好に再現する画像処理方法を提供する。【解決手段】基準マーク172が均一に設けられた基材を複数の撮像範囲に分けて撮像し、仮想画面162に予め設定された設定マーク座標に対する各基準マークの像のずれを補正する補正テーブル174をそれぞれ作成する。電気部品28を複数の撮像範囲に分けて撮像し、取得された画像データにより物理画面を形成し、情報を取得すべき仮想位置を補正テーブルに基づいて補正して物理位置を取得し、その物理位置における光学的特性値を、仮想位置における光学的特性値として取得する。
請求項（抜粋）：
撮像すべき撮像対象物を、1つの撮像装置が1度に撮像することができる撮像範囲であって互に隣接する撮像範囲と部分的に重なる部分である重複部を含む複数の撮像範囲に分割し、それら撮像範囲をそれぞれ撮像し、それら複数の撮像範囲について各々取得した複数の画像のデータである複数群の画像データに基づいて前記撮像対象物の光学的特性値を取得する画像処理方法であって、前記複数の撮像範囲に対応して想定される仮想画面において、前記光学的特性値を取得すべき仮想位置を設定し、その仮想位置を予め作成された補正データに基づいて補正することにより、前記複数群の画像データに基づいて形成される複数の物理画面のいずれかにおいて前記仮想位置に対応する物理位置を取得し、その物理位置における光学的特性値を仮想位置における光学的特性値として取得する画像処理方法。
IPC (3件)：
G06T 1/00 ,  G01B 11/24 ,  G01B 11/255
FI (3件)：
G06F 15/66 470 J ,  G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 M
Fターム (37件)：
2F065AA51 ,  2F065BB27 ,  2F065CC01 ,  2F065CC25 ,  2F065DD03 ,  2F065DD07 ,  2F065EE00 ,  2F065EE08 ,  2F065FF04 ,  2F065FF61 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL12 ,  2F065MM24 ,  2F065PP03 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ36 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ42 ,  2F065RR07 ,  5B057AA03 ,  5B057BA19 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CD12 ,  5B057CE10 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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