特許
J-GLOBAL ID：200903065987810777
欠け検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-313280
公開番号（公開出願番号）：特開平6-160299
出願日： 1992年11月24日
公開日（公表日）： 1994年06月07日
要約：
【要約】【目的】 検査対象物の微小な欠けを確実に検出することができ、しかもその装置構成を簡略化することができる欠け検査装置を提供する。【構成】 検査対象物の互いに平行な端面に挟まれた所定幅を有するエッジ間端面のエッジの画像を水平あるいは垂直に映し出すように配置された撮像手段と、そのエッジ間端面の画像を得るための光の照射を行う照明手段と、このエッジ間端面の画像を画像処理することにより得られるエッジ間端面のエッジ間の幅データをそれぞれ所定の基準値と比較することにより検査対象物の良否を判定する画像処理手段とを備える。
請求項（抜粋）：
検査対象物の互いに平行な端面に挟まれた所定幅を有するエッジ間端面のエッジ部分の欠けを検出する装置であって、そのエッジ間端面のエッジの画像を水平あるいは垂直に映し出すように配置された撮像手段と、そのエッジ間端面の画像を得るための光の照射を行う照明手段と、上記撮像手段及び照明手段の駆動により得られる上記エッジ間端面の画像を画像処理することにより得られる上記エッジ間端面のエッジ間の幅データをそれぞれ所定の基準値と比較することにより検査対象物の良否を判定する画像処理手段とを備えたことを特徴とする欠け検査装置。
IPC (2件)：
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