特許

J-GLOBAL ID：200903066019902842

光回路評価方法

発明者： 高田 和正 ,  井上 靖之 ,  山田 裕朗
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 吉田 精孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-005989
公開番号（公開出願番号）：特開平7-209090
出願日： 1994年01月24日
公開日（公表日）： 1995年08月11日
要約：

【要約】【目的】 長さの異なる光導波路を有する干渉形光回路内の各光導波路を伝搬する光が受ける位相変化及び光パワー分配量を高精度に測定し得る光回路評価方法を提供する。【構成】 試験用の干渉形光回路を、該光回路の任意の2つの光導波路間の光路長差よりも短いコヒーレント長を有する光源を使用した干渉計内に設置して孤立したビート信号を生成し(s1)、各ビート信号を光路長差xの関数として抽出し(s2)、フーリエ変換し(s3)、それぞれの位相と振幅を求めることにより、各光導波路における位相及び光パワー分配量を求める(s4)。

請求項（抜粋）：

共通の入射ポート及び出射ポートを有し、長さの異なるN本の光導波路を有する干渉形光回路内の各光導波路を伝搬する光が受ける位相変化及び光パワー分配量を測定する光回路評価方法において、光回路の任意の2つの光導波路間の光路長差よりも短いコヒーレント長を有する光源を用いた干渉計の一方の光路内に該光回路を設置し、参照光の光路となる該干渉計の他方の光路の光路長を変化させ、各光導波路を伝搬する光と前記参照光との干渉によって生じるN個の孤立したビート信号からなるインターフェログラムI(x)を生成(xは特定の地点からの参照光の光路長変化)し、孤立した各ビート信号ik (x)を抽出し、σを波数として、フーリエ変換を計算し(iは虚数単位)、それぞれの振幅Ak (σ)と位相Φk (σ)を求め、位相Φk (σ)をk番目の光導波路にて光が受けた位相変化、光源のスペクトルをg(σ)として|Ak (σ)/g(σ)|2 を光パワー分配量として導出することを特徴とする光回路評価方法。

IPC (2件)：

G01J 9/00 ,  G01M 11/00