特許

J-GLOBAL ID：200903066045945231

イオントラップ質量分析計を用いたGC/MS/MS方法

発明者： 剱持 由起夫 ,  有川 彰浩
出願人/特許権者： 株式会社荏原製作所
代理人 (1件)： 社本 一夫 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-296948
公開番号（公開出願番号）：特開2001-116723
出願日： 1999年10月19日
公開日（公表日）： 2001年04月27日
要約：

【要約】【課題】 物理的性質及び化学的性質が近似する2以上の分析対象物を識別すること。【解決手段】 生成物イオンのイオン質量分布の観測データを、生成物イオンのイオン質量分布の理論値と比較することにより、質量クロマトグラム中のクロマトピークを同定する、イオントラップ質量分析計を用いたGC/MS/MS方法。

請求項（抜粋）：

イオントラップ質量分析計を用いたGC/MS/MS方法において、生成物イオンのイオン質量分布の観測データを、生成物イオンのイオン質量分布の理論値と比較することにより、質量クロマトグラム中のクロマトピークを同定することを特徴とする、イオントラップ質量分析計を用いたGC/MS/MS方法。

IPC (3件)：

G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  H01J 49/26

FI (4件)：

G01N 27/62 C ,  G01N 27/62 D ,  G01N 30/72 A ,  H01J 49/26

Fターム (8件)：

5C038HH03 ,  5C038HH16 ,  5C038HH26 ,  5C038HH28 ,  5C038JJ02 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ11

引用特許：

審査官引用 (2件)

• MS/MS質量分析装置用データ処理装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-282814   出願人：株式会社島津製作所
• 質量スペクトル表示方法,質量スペクトル表示装置,質量分析方法及び質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-100022   出願人：株式会社日立製作所

引用文献：

審査官引用 (1件)

• “固体中ダイオキシン類迅速モニタリング法の検討”