特許

J-GLOBAL ID：200903066067985725

液晶中のイオン性不純物の非破壊分析法

発明者： 大谷 誠
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社 ,  旭硝子株式会社
代理人 (1件)： 高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-147770
公開番号（公開出願番号）：特開平8-015154
出願日： 1994年06月29日
公開日（公表日）： 1996年01月19日
要約：

【要約】【目的】 液晶セル中の液晶中のイオン性不純物を該セルを破壊することなく分析することである。【構成】 液晶中のイオン性不純物に高い選択性をもつ蛍光指示薬を混合した液晶セルを用い、蛍光顕微分光法で蛍光指示薬より発生する蛍光強度を測定することを特徴とする分析方法であり、液晶セルを破壊することなく、高い空間分解能で該不純物の成分と含有率とを知ることができる。

請求項（抜粋）：

液晶セル中の液晶中のイオン性不純物の分析において、該イオン性不純物に高い選択性をもつ蛍光指示薬を液晶中に混合した液晶セルを用い、蛍光顕微分光法により液晶部分の蛍光強度を測定して該液晶中のイオン性不純物の成分とその含有率を分析することを特徴とする液晶表示素子における液晶中のイオン性不純物の非破壊分析法。