特許

J-GLOBAL ID：200903066113294520

試料中の測定対象物質の測定方法及び測定試薬

発明者： 水谷 幸仁 ,  中村 雄樹 ,  川崎 幸造 ,  田中 龍彦
出願人/特許権者： 株式会社シノテスト
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-158696
公開番号（公開出願番号）：特開2004-004097
出願日： 2003年04月28日
公開日（公表日）： 2004年01月08日
要約：

【目的】試料中の測定対象物質の測定にみられる、試料中に含まれる干渉物質による測定値への影響を回避し、正確な測定を行うことができる手段を提供する。【構成】試料中の測定対象物質の測定時に、試料中に含まれる干渉物質による測定反応への干渉作用を抑制するため、測定反応時に前記の干渉物質と同じ機能を有する物質を存在させて測定を行う、試料中の測定対象物質の測定方法。及び試料中に含まれる干渉物質と同じ機能を有する物質を含有する、試料中の測定対象物質の測定試薬。【選択図】なし

請求項（抜粋）：

試料中の測定対象物質の測定時に、試料中に含まれる干渉物質による測定反応への干渉作用を抑制するため、測定反応時に前記の干渉物質と同じ機能を有する物質を存在させて測定を行う、試料中の測定対象物質の測定方法。

IPC (2件)：

G01N33/543 ,  G01N33/531

FI (2件)：

G01N33/543 501J ,  G01N33/531 B

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開平4-084768