特許
J-GLOBAL ID：200903066114999357
超音波応用測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-056756
公開番号（公開出願番号）：特開平5-215726
出願日： 1992年02月06日
公開日（公表日）： 1993年08月24日
要約：
【要約】【目的】 電磁超音波発生用の磁化コイルの温度から被測定材の温度を推定して雰囲気温度の影響による被測定材の温度変動に伴う被測定材中での超音波の伝播時間の測定値誤差を補正して測定精度を高める。【構成】 熱電対4で測定した探触子11,12,13の磁化コイルの温度から被測定材の温度を推定し、この温度に基づいて、探触子11,12, 13が超音波を送受して測定した被測定材中の超音波の伝播時間の誤差を補正する。
請求項（抜粋）：
磁化コイルによって発生された超音波の被測定材中における伝播時間を受信プローブで測定し、該伝播時間に基づいて被測定材の特性を測定する超音波応用の測定装置において、前記磁化コイルの温度を測定する手段と、予め求められている磁化コイルの温度と被測定材の温度との相関関係に基づき被測定材の温度を求める手段と、該手段により求まる被測定材の温度に基づき、測定した前記伝播時間を補正する手段とを備えたことを特徴とする超音波応用測定装置。
IPC (3件)：
G01N 29/04 504
, G01B 17/02
, G01N 29/18
