質量分析方法および装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：特許業務法人明成国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-175716
公開番号（公開出願番号）：特開2002-100318
出願日： 2001年06月11日
公開日（公表日）： 2002年04月05日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】実時間で候補親イオンを同定し、クロマトグラフィに用いるのに適した候補親イオン同定方法を提供する。【解決手段】親イオン走査の改良方法が開示されている。1つの実施形態では、衝突セル4の上流の四重極質量フィルタ3がハイパスモードで動作するように配置されている。質量フィルタ3を通過した親イオンは、衝突セル4でフラグメント化され、娘イオンスペクトルを取得する直交型飛行時間分析器5により発見される。質量フィルタ3のカットオフ値未満の質量/電荷比を持つイオンを、娘イオンとして同定し、次いで、候補親イオンを発見し、対応する娘イオンのスペクトルを取得することによりそれらの同定を確認することができる。第1の実施形態では、衝突セルが高低のフラグメント化の間を交互に切り替わるため、更に、所定のイオンもしくは中性粒子の消失に基づき候補親イオンを同定することができる。

請求項（抜粋）：

質量分析方法であって、イオンを生成するイオン源(1)を設ける工程と、第1の範囲内の質量/電荷比を持つイオンが実質的に通過し、前記第1の範囲外の質量/電荷比を持つイオンの通過が実質的に減らされるように前記イオンをフィルタリングする工程と、前記フィルタリングされたイオンの少なくとも一部がフラグメント化されて娘イオンを生成する第1のモードで動作されるフラグメント化手段(4)に、前記フィルタリングされたイオンを送る工程と、前記第1のモードで動作する前記フラグメント化手段(4)を通り抜けた前記イオンの少なくとも一部を質量分析する工程とを含み、更に、前記第1の範囲外の質量/電荷比を持つと決定されたイオンの少なくとも一部を、娘イオンとして同定する工程を含むことを特徴とし、1つ以上の娘イオンが存在すると決定された場合に、前記方法は更に、前記1つ以上の娘イオンが1つ以上の所定の娘イオンに一致するか否かを決定する工程を含み、前記1つ以上の娘イオンが1つ以上の所定の娘イオンに一致すると決定された場合に、前記方法は更に、前記フィルタリングされたイオンのうち前記第1のモードよりも実質的に少ない量がフラグメント化される第2のモードで、前記フラグメント化手段(4)を動作させる工程と、前記第2のモードで動作する前記フラグメント化手段(4)を通り抜けた前記イオンの少なくとも一部を質量分析する工程と、を含む、方法。

IPC (4件)：

H01J 49/26 , G01N 27/62 , H01J 49/10 , H01J 49/42

FI (7件)：

H01J 49/26 , G01N 27/62 H , G01N 27/62 K , G01N 27/62 L , G01N 27/62 X , H01J 49/10 , H01J 49/42

Fターム (8件)：

5C038GH11 , 5C038GH13 , 5C038GH15 , 5C038HH02 , 5C038HH05 , 5C038HH16 , 5C038HH26 , 5C038HH28

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