特許
J-GLOBAL ID：200903066176503013
クリーム半田の外観検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-106339
公開番号（公開出願番号）：特開平5-296746
出願日： 1992年04月24日
公開日（公表日）： 1993年11月09日
要約：
【要約】【目的】 半田レベラーの有無にかかわりなく電極上に形成されたクリーム半田の塗布量の良否判定を的確に行うことができるクリーム半田の外観検査方法。【構成】 基板1の銅箔から成る電極2上に形成されたクリーム半田4に斜め上方から波長600nm以下の光を照射し、この基板1から反射された反射光を上方のカメラ6に入射させて明暗画像を入手し、この明暗画像を基にこのクリーム半田4の塗布量の良否判定を行う。【効果】 クリーム半田4は光を散乱させて明るく観察されるが、銅箔から成る基板1の電極2は波長600nm以下の光を吸収して暗く観察されるので、クリーム半田4と電極2の境界線が明瞭になって半田レベラー3の有無にかかわりなくクリーム半田4の良否判定を的確に行える。
請求項（抜粋）：
銅箔から成る基板の電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方から波長600nm以下の光を照射し、この基板から反射された反射光を上方のカメラに入射させて明暗画像を入手し、この明暗画像を基にこのクリーム半田の塗布量の良否判定を行うことを特徴とするクリーム半田の外観検査方法。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, H04N 5/225
, H05K 3/34
