特許
J-GLOBAL ID：200903066203833462

スペクトル測定装置

発明者：
中村 健次

中村 健次 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-007332
公開番号（公開出願番号）：特開平8-201279
出願日： 1995年01月20日
公開日（公表日）： 1996年08月09日
要約：
【要約】【目的】 光学的性質とともに光学的性質以外の耐熱性、耐圧性、耐摩耗性耐腐食性などの性質が優れたATRプリズムを用いたスペクトル測定装置を提供する。【構成】 ATRプリズム1は単一物質からなるATRプリズム本体10と、被測定試料が密着される反射面11、12に形成されるダイヤモンド薄膜20とを有し、被測定試料とはダイヤモンド膜を介してATRプリズムに接触されるこようにする。
請求項（抜粋）：
測定光が入射される入射面、被測定試料が密着されることによりこの被測定試料表面により前記測定光が反射される少なくとも1つの反射面、反射面において反射された後の測定光が出射される出射面とを有するATRプリズムを用いて測定するスペクトル測定装置において、前記ATRプリズムは単一物質からなるATRプリズム本体と、被測定試料が密着される反射面に形成されるダイヤモンド薄膜とを有していることを特徴とするスペクトル測定装置。
引用特許：
審査官引用 (5件)
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