X線画像検出装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：長谷川芳樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-155946
公開番号（公開出願番号）：特開平11-352230
出願日： 1998年06月04日
公開日（公表日）： 1999年12月24日
要約：

【要約】【課題】光量調節を可能とした薄型で高感度かつ高S/NのX線画像検出装置を提供する。【解決手段】 X線を吸収して蛍光を発する蛍光体101と、この蛍光による光画像を伝送するFOP102と、蛍光画像を検出する二次元固体撮像素子103を有するX線画像検出装置において、FOP102と撮像素子103との間に、EC膜202と固体電解質層203とを透明導電膜201、204で挟んで構成された光量調整手段200を配置している。この光量調整手段の導電膜201、204間に電圧を印加すると、EC膜202は内部の化学反応によって透過率が変化する。これにより、撮像素子103に入射する蛍光画像の光量を変えることができる。

請求項（抜粋）：

X線吸収に応じて蛍光を発する蛍光体を、前記蛍光による画像を検出する二次元固体撮像素子の光入射面側に配置しているX線画像検出装置において、前記蛍光体と前記二次元固体撮像素子の間に、2枚の透明電極膜に挟まれたエレクトロクロミック膜からなる光量調整手段を備えていることを特徴とするX線画像検出装置。

IPC (3件)：

G01T 1/00 , A61B 6/00 300 , G01T 1/20

FI (3件)：

G01T 1/00 B , A61B 6/00 300 N , G01T 1/20 C

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