特許

J-GLOBAL ID：200903066259947657

有効に付与された放射線量を制御する方法ならびに装置

発明者： ピエテ・ヴィルステク
出願人/特許権者： アグファ・ゲヴェルト・ナームロゼ・ベンノートチャップ
代理人 (1件)： 安達 光雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-204541
公開番号（公開出願番号）：特開平7-075635
出願日： 1994年08月05日
公開日（公表日）： 1995年03月20日
要約：

【要約】【目的】 透過放射線の照射光源から照射され被写体の透過により低減された放射線量が光刺激性蛍光スクリーンに保存されるような装置での、前記照射光源からの有効放射線量を制御する方法ならびに装置を提供する。【構成】 その有効放射線量の設定は、実際の信号値と規定信号値との差から算定される。

請求項（抜粋）：

透過放射線の照射光源から照射され被写体の透過により低減された放射線量が光刺激性蛍光スクリーンに保存され、その光刺激性蛍光スクリーンを刺激光線にて走査することにより発光した光量を読取装置で検知して電気信号に変換するような装置における前記照射光源からの有効放射線量を制御する方法において、前記放射線量を設定するため、所定の放射線量に対する読取装置の対応調整値が保管されているテーブルから、前記の放射線量に露光された光刺激性蛍光スクリーンからその調整値で制御された前記の読取装置で読み取られた平均信号値が規定値ye と等しくなるような読取装置の所要調整値を選定する工程と、前記の選定調整値で前記読取装置を制御する工程と、前記の光刺激性蛍光スクリーンから画像を読み取る工程と、前記画像の診断部位を示す信号値ya を算定する工程と、所望の放射線量から有効放射線量の偏差である差値ya -yeを計算する工程と、その差値を出力する工程とから成る、有効放射線量の制御方法。

IPC (2件)：

A61B 6/10 303 ,  G21K 5/00

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭56-011348
  
• 特開昭61-231476