特許

J-GLOBAL ID：200903066281478610

測距装置

発明者： 宮成 洋
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-016078
公開番号（公開出願番号）：特開平9-210674
出願日： 1996年01月31日
公開日（公表日）： 1997年08月12日
要約：

【要約】【課題】 センサーアレイ上の2つの受光像の位置の相対値に基づいて被測距物までの距離を求める測距装置において、投光手段から離れた側のセンサーアレイにおいても受光像が欠けることなく、正確で迅速な測距を行えるようにする。【解決手段】 2つのセンサーアレイ104、105のうち、投光手段から遠いセンサーアレイ104に形成される受光像107が測距に有効な画素範囲であるウインドウ104aからはみ出した場合に、相関信頼度が基準よりも低いと判断してウインドウ104aを左側にずらして再度測距を行う。

請求項（抜粋）：

被測距物にスポット光を投光する投光手段と、前記被測距物からの第1の光路を通過した反射光を受光して光電変換する複数の画素からなる第1のセンサーアレイと、前記被測距物からの第2の光路を通過した反射光を受光して光電変換する複数の画素からなる第2のセンサーアレイとを具備し、前記第1、第2のセンサーアレイ上での受光像の位置の相対値に基づいて前記被測距物までの距離を求める測距装置において、前記第1、第2のセンサーアレイの夫々の既定範囲にある前記画素を用いて測距動作を行い、このときの各画素からの出力に基づいて得られる相関信頼度が基準よりも低い場合に、前記第1、第2のセンサーアレイの少なくともいずれか一方については前記既定範囲とは少なくとも一部が異なる範囲にある前記画素を用いて再度の測距動作を行う制御手段を有することを特徴とする測距装置。

IPC (3件)：

G01C 3/06 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36

FI (3件)：

G01C 3/06 A ,  G02B 7/11 B ,  G03B 3/00 A

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭63-026611
  
• 特開平3-165212
  
• 特開昭63-017416
  
• 特開昭59-062810