特許
J-GLOBAL ID：200903066301102239
磁気デバイスの磁気特性解析方法及び磁気特性解析装置並びに磁気ヘッド及び磁気記録再生装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
池内 寛幸 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-024999
公開番号（公開出願番号）：特開平8-249621
出願日： 1995年02月14日
公開日（公表日）： 1996年09月27日
要約：
【要約】【目的】 磁気デバイスの磁気特性を的確に測定することができる磁気デバイスの磁気特性解析方法及び磁気特性解析装置を提供すると共に、優れた記録再生特性を有する磁気ヘッド及び磁気記録再生装置を提供する。【構成】 磁気特性解析装置をデータ入力部1と、連成解析部2と、結果出力部3とにより構成する。データ入力部1に、磁気デバイスを構成する材料の特性に関わるデータ、磁気デバイスの構造に関わるデータ、構造解析の境界条件に関わるデータ、磁場解析の境界条件に関わるデータを入力する。連成解析部2において、データ入力部1から入力された前記境界条件に関わるデータに基づき区分された複数部分ごとの応力分布を求め、前記磁気デバイスの電磁場解析の境界条件に関わるデータ及び前記応力分布に基づき前記複数部分ごとの磁気特性を求め、前記複数部分ごとの磁気特性に基づき磁気デバイス全体の磁気特性を求める。
請求項（抜粋）：
磁性材料及び非磁性材料を用いて構成された磁気デバイスの磁気特性を解析装置によって測定するに際して、前記磁気デバイスを構成する材料の特性に関わるデータと、前記磁気デバイスを複数部分に分割した構造に関わるデータと、前記磁気デバイスの構造解析の境界条件に関わるデータと、前記磁気デバイスの電磁場解析の境界条件に関わるデータとを前記解析装置に入力し、前記境界条件に関わるデータに基づいて区分された複数部分ごとの応力分布を求め、前記磁気デバイスの電磁場解析の境界条件に関わるデータ及び前記応力分布に基づいて前記複数部分ごとの磁気特性を求め、前記複数部分ごとの磁気特性に基づいて磁気デバイス全体の磁気特性を求める磁気デバイスの磁気特性解析方法。
IPC (5件)：
G11B 5/455
, G01R 31/00
, G01R 33/12
, G11B 5/00
, G11B 5/127
G11B 5/455 C
, G01R 31/00
, G01R 33/12 Z
, G11B 5/00 D
, G11B 5/127 D
