特許

J-GLOBAL ID：200903066333081853

半導体装置

発明者： 有木 康志
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 田澤 博昭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-238860
公開番号（公開出願番号）：特開平6-067985
出願日： 1992年08月17日
公開日（公表日）： 1994年03月11日
要約：

【要約】【目的】 半導体装置内のメモリの不正読み出しに対する防御機能を向上する。【構成】 予め設定されたコードを持ち、該コードと外部から入力されたプロテクト解除コードとが合致したとき、プロテクト解除信号を出力するプロテクト装置3と、上記プロテクト解除コードの入力によって時間測定を開始する時間測定装置7とを備え、該時間測定装置7により測定された時間が設定時間を経過すると、上記プロテクト装置3による上記合致および不合致の判定結果に拘らず、アンドゲートに、上記メモリ2からの情報の外部への出力を禁止させる。

請求項（抜粋）：

情報を記憶しているメモリと、予め設定されたコードを持ち、該コードと外部から入力されたプロテクト解除コードとが合致したとき、プロテクト解除信号を出力するプロテクト装置と、上記プロテクト解除コードの入力によって時間測定を開始する時間測定装置と、該時間測定装置により測定された時間が設定時間を経過すると、上記プロテクト装置による上記合致および不合致の判定結果に拘らず、上記メモリからの情報の外部への出力を禁止するアンドゲートとを備えた半導体装置。