特許

J-GLOBAL ID：200903066333695592

パターン認識方法

発明者： 尾崎 孝幸
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 大胡 典夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-205735
公開番号（公開出願番号）：特開平5-046734
出願日： 1991年08月16日
公開日（公表日）： 1993年02月26日
要約：

【要約】【目的】 複雑なパターンを示す認識対象に対しても、認識率を向上させて高い精度の認識が行えるパターン認識方法を提供する。【構成】 矩形の標準パターン領域11を標準のパターン8と略同形状の認識領域14が区画されるように矩形の第1,第2の否認識領域12,13によって区画した標準画像1と、同様に認識領域14に対応する検出範囲19を区画したマスク画像2とを予め設定しておき、対象画像3からマスク画像2の検出範囲19によって対象物のパターン8′を含む認識領域14と同形状の検出領域23を切り出し、続いて認識領域14のデータと検出領域23のデータとの相関係数f(x)を算出し、対象物のパターン8′と標準のパターン8との類似度を算出してパターンの認識を行う。

請求項（抜粋）：

二次元の対象物のパターンを標準のパターンと比較し、類似度を算出して認識を行なうパターン認識方法において、前記標準のパターンを包含するように矩形の標準パターン領域を設定し、この標準パターン領域を前記標準のパターンを含む認識領域が設定されるように少なくとも1つの矩形の否認識領域によって区画して標準画像として記憶すると共に、前記標準画像と同形状に区画され前記認識領域を検出範囲として区画されたマスク画像を設定し、前記対象物のパターンを包含する対象画像から前記マスク画像によって前記検出範囲に対応する該対象画像の検出領域を切り出し、切り出された前記検出領域のデータと前記認識領域のデータとによって前記対象物のパターンと前記標準のパターンとの類似度を算出するようにして認識を行うことを特徴とするパターン認識方法。

IPC (4件)：

G06F 15/62 400 ,  G01B 11/24 ,  G01N 21/88 ,  G06F 15/70 455

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平1-180404
  
• 特開昭63-019078
  
• 特開昭59-002330
  
• 特開平3-142689