特許
J-GLOBAL ID：200903066344783647
実装基板検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大坪 知
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-085976
公開番号（公開出願番号）：特開平5-249045
出願日： 1992年03月09日
公開日（公表日）： 1993年09月28日
要約：
【要約】【目的】 実装基板検査装置での、基板上に実装されたチップ電子部品等の検査対象部品が正しい位置に実装されているか否かの判定を、より正確に行う。【構成】 検査対象部品4に対して横方向あるいは斜め上方からの照明26を行い、検査対象部品4の側面の輝度を高めて、検査対象部品4とそれが当接するランドとの輝度差を明確にする。また、カメラにフィルター28を取り付けて、ランド色の特定波長をカットし、検査対象部品4とランドとの輝度差を明確にする。更に、検査対象部品の輝度分布と検査対象部品のランドの輝度分布とが同程度であれば不良品、検査対象部品の輝度分布と検査対象部品のランドの輝度分布とが異なれば良品と判定する検査ロジックを設けて、照明の輝度むらが発生した場合や、照明の照度が低下した場合等において、良品を不良と判定する誤判定を防止する。
請求項（抜粋）：
基板上の検査対象部品をカメラにて撮影し輝度を測定することにより上記検査対象部品の実装状態を検査する実装基板検査装置において、上記検査対象部品の輝度分布と上記検査対象部品のランドの輝度分布とが同程度であれば不良品、上記検査対象部品の輝度分布と上記検査対象部品のランドの輝度分布とが異なれば良品と判定するようにしたことを特徴とする実装基板検査装置。
IPC (2件)：
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