特許

J-GLOBAL ID：200903066448200260

指紋照合装置

発明者： 中島 寛
出願人/特許権者： 山武ハネウエル株式会社
代理人 (1件)： 山川 政樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-217941
公開番号（公開出願番号）：特開平7-057086
出願日： 1993年08月11日
公開日（公表日）： 1995年03月03日
要約：

【要約】【目的】 精度を落とすことなく、特徴点からのデータの抽出処理を少なくして、照合スピードを早める。【構成】 照合時、先ず、重要度の一番高い特徴点を第1番目の特徴点として、その特徴点があるであろう照合指紋の紋様中の座標位置を中心とし、第1ウィンドウWD1を開く。WD1の大きさは大まかな位置補正に際して求めた位置ずれ量から決定する。位置ずれ量が大きければ大きくする。WD1内を細線化して第1候補点P1を抽出する。次に、P1の座標位置を第1特徴点があるべき座標位置とみなして、第2番目の特徴点があるであろう座標位置を中心としてWD2を開く。WD2内を細線化して第2候補点P2を抽出する。以下同様にして、P1の座標位置を第1番目の特徴点のあるべき座標位置と確定したうえ、WD3以降を開き、その領域内を細線化して、候補点を抽出する。

請求項（抜粋）：

登録指紋として採取された指紋の紋様中に適宜に原点を定め、この原点を中心として直交座標を定めたうえ、前記紋様中の複数の特徴点のデータを抽出し、この抽出した各特徴点のデータを登録データとして記憶しておき、照合指紋として採取された指紋より前記登録指紋と同様にしてその紋様中の複数の特徴点のデータを照合データとして抽出し、この抽出した照合データと前記登録データとに基づき前記照合指紋と前記登録指紋との照合を行う指紋照合装置において、前記登録指紋と前記照合指紋との座標上でのずれ量を算出するずれ量算出手段と、そのデータが登録データとして記憶されている特徴点について、その特徴点があるであろう前記照合指紋の紋様中の座標位置を中心として探索領域を定め、その探索領域からデータを抽出して登録データと比較する比較手段と、前記探索領域を定めるに際し少なくとも最初の探索領域の大きさを前記ずれ量算出手段の算出したずれ量に応じて決定する探索領域決定手段とを備えたことを特徴とする指紋照合装置。