特許
J-GLOBAL ID：200903066521811850
温度センサのリニアライズ処理方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中井 宏行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-244893
公開番号（公開出願番号）：特開平5-060621
出願日： 1991年08月29日
公開日（公表日）： 1993年03月12日
要約：
【要約】【目的】温度センサのリニアライズ処理方法において、簡単な方法によって温度測定誤差を抑え、演算処理の負担を軽減できるようにする。【構成】温度センサの温度に対する抵抗特性を所定区分毎に双曲線で近似し、その区分に応じた抵抗値範囲と双曲線近似式とを対応させて格納したリニアライズテーブルを予め用意しておき、上記温度センサの抵抗値のサンプリング時には、上記リニアライズテーブルを参照して抵抗値に対応した双曲線近似式を読み出し、読み出された双曲線近似式にサンプリングした抵抗値を代入して温度値を算出するようにされている。
請求項（抜粋）：
温度センサの温度に対する抵抗特性を所定区分毎に双曲線で近似し、その区分に応じた抵抗値範囲と双曲線近似式とを対応させて格納したリニアライズテーブルを予め用意しておき、上記温度センサの抵抗値のサンプリング時には、上記リニアライズテーブルを参照して抵抗値に対応した双曲線近似式を読み出し、読み出された双曲線近似式にサンプリングした抵抗値を代入して温度値を算出するようにした温度センサのリニアライズ処理方法。
IPC (3件)：
G01K 7/24
, G01D 3/02
, G01K 7/00 321
