特許

J-GLOBAL ID：200903066553612892

液晶パネルと駆動回路素子の接続検査方法

発明者： 中村 和彦 ,  松岡 英樹 ,  萩野 隆志
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 岡田 敬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-156204
公開番号（公開出願番号）：特開平9-005381
出願日： 1995年06月22日
公開日（公表日）： 1997年01月10日
要約：

【要約】【目的】 ACFを用いてTABを形成したLCDにおいて、TABの簡便な不良検査を可能とする。【構成】 基板(10)側の入力端子(14)群の配列に隣接する検査用端子(24)を配置するとともに、フレキシブルテープ(16)側の導線(17)群の配列に隣接する検査用導線(27)を配置する。TAB形成後に、両パッド(25)(28)間で導通を検査し、ショートの場合は、フレキシブルテープ(16)の伸びによる導線(17)の位置ずれが大きく、接続不良が生じていると判定される。

請求項（抜粋）：

液晶を駆動するための電極配線が形成された一対の電極基板間に液晶が密封されてなる液晶パネルに、駆動回路素子が搭載された第3の基板を接着するとともに、前記電極基板の端部に形成され前記電極配線に接続された入力端子と前記第3の基板上に形成され前記駆動回路素子の出力端に接続された導線を電気的に接続する、液晶パネルと駆動回路素子の接続検査方法において、前記電極基板の端部には、前記入力端子が配列された群に所定の距離を隔てて隣接する検査用端子が形成され、前記第3の基板には、前記導線が配列された群に所定の距離を隔てて隣接する検査用導線が形成され、前記検査用端子と前記検査用導線との電気的導通の有無により、前記入力端子と前記導線の接続の良否を判定することを特徴とする液晶パネルと駆動回路素子の接続検査方法。

IPC (4件)：

G01R 31/02 ,  G01R 31/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1345

FI (4件)：

G01R 31/02 ,  G01R 31/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1345