特許
J-GLOBAL ID:200903066615844000
回転軸の軸伸び量計測方法及び計測装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
石川 新 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-281826
公開番号(公開出願番号):特開2002-090138
出願日: 2000年09月18日
公開日(公表日): 2002年03月27日
要約:
【要約】【課題】 伸びの大きさに関わらず、精度よく回転軸の軸伸び量を計測可能な軸伸び量計測方法と装置を提供すること。【解決手段】 軸伸び量を計測する回転軸1の回転面に、軸心に対し互いに反対方向に傾斜した溝10,12が設けられている。回転軸1の回転面に対向させてセンサ14が配置されている。回転軸1の回転に伴い、センサ14は溝10,12が通過する度にパルスを発生する。溝10と12の周方向の間隔は、回転軸1の軸方向位置で異っているので、軸伸びによってセンサ14の位置における溝10,12の位置が変化するとセンサ14によって発生されるパルス間隔は変化する。そのパルス発生間隔の変化から軸伸び量を求める。
請求項(抜粋):
回転軸の軸伸び量を計測する軸伸び量計測方法であって、前記回転軸の回転面に、基準マークと、前記回転軸の軸心方向と傾斜させた計測マークとを設け、前記回転軸の回転に伴う前記マークの通過によりパルスを発生するセンサを前記回転軸の回転面に対向させて静置し、前記基準マークと計測マークにより前記センサが発生するパルスの間隔の変化量から前記回転軸の軸伸び量を計測することを特徴とする回転軸の軸伸び量計測方法。
IPC (4件):
G01B 21/32
, F01D 25/00
, G01B 7/00
, G01B 11/00
FI (5件):
G01B 21/32
, F01D 25/00 V
, G01B 7/00 E
, G01B 7/00 K
, G01B 11/00 A
Fターム (36件):
2F063AA26
, 2F063BA30
, 2F063BC04
, 2F063BD06
, 2F063BD11
, 2F063DA01
, 2F063DA05
, 2F063DD02
, 2F063GA08
, 2F063HA04
, 2F063KA02
, 2F063LA19
, 2F063LA25
, 2F065AA22
, 2F065AA65
, 2F065BB06
, 2F065BB16
, 2F065BB27
, 2F065CC00
, 2F065FF32
, 2F065QQ04
, 2F065QQ26
, 2F069AA68
, 2F069BB40
, 2F069CC05
, 2F069DD19
, 2F069DD20
, 2F069DD27
, 2F069GG06
, 2F069GG07
, 2F069GG31
, 2F069GG45
, 2F069HH07
, 2F069HH09
, 2F069JJ17
, 2F069NN00
引用特許:
審査官引用 (3件)
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特開昭59-013906
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特開昭59-013906
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特開平1-277704
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