3次元計測装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-215504
公開番号（公開出願番号）：特開2002-031502
出願日： 2000年07月17日
公開日（公表日）： 2002年01月31日
要約：

【要約】【課題】広範囲の計測を行うことが可能で、測定範囲内で測定精度を一定に保持することができ、簡易に計測対象の計測を行うことができる3次元計測器を提供する。【解決手段】少なくとも3本のワイヤ24を出し入れ可能に保持して、当該3本のワイヤ24の出入口32を3角形の頂点を形成するように配置した保持ユニット22と、当該保持ユニット22から引き出した前記ワイヤ24のそれぞれの長さを測定する測定手段と、計測点10に集結させる前記それぞれのワイヤ24の長さから計測点10の座標位置を演算する演算手段と、を有した。

請求項（抜粋）：

線状部材を出し入れ可能な複数の出入口を多角形状に配置した保持ユニットと、当該複数の出入口から引き出した各線状部材の長さを測定する測定手段と、計測点に集結させた前記各線状部材の長さから計測点の座標位置を演算する演算手段と、を有したことを特徴とする3次元計測装置。

Fターム (10件)：

2F062AA04 , 2F062CC27 , 2F062EE01 , 2F062EE52 , 2F062GG02 , 2F062GG04 , 2F062GG38 , 2F062JJ01 , 2F062MM03 , 2F062MM07

引用特許：

審査官引用 (1件)

ポインティング装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-066832 出願人：ホシデン株式会社

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