特許
J-GLOBAL ID：200903066697150605
表面歪み算出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
千葉 剛宏 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-057083
公開番号（公開出願番号）：特開平8-254412
出願日： 1995年03月16日
公開日（公表日）： 1996年10月01日
要約：
【要約】【目的】表面歪みを判定するための基準データである歪み範囲および歪み量を、製品表面の輝度情報から高精度に算出することのできる表面歪み算出方法を提供することを目的とする。【構成】製品から得られる輝度情報であるグレイレベルデータG(x)を微分して歪み範囲Lを求める一方(ステップS20)、前記グレイレベルデータG(x)を前記歪み範囲Lを考慮して2回積分し、得られるデータから歪み量Hを求める(ステップS30)。
請求項（抜粋）：
測定用照明光の製品表面による反射光から製品の表面形状に応じた輝度情報を得る第1ステップと、前記輝度情報を微分演算し、1次微分情報を求める第2ステップと、前記1次微分情報から前記表面形状の歪み中心点を求める第3ステップと、前記1次微分情報から前記歪み中心点を中心とする歪み範囲を求める第4ステップと、前記歪み範囲における前記輝度情報を2回積分演算し、2次積分情報を求める第5ステップと、前記2次積分情報から前記表面形状の歪み量を求める第6ステップと、からなることを特徴とする表面歪み算出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/24 K
, G01N 21/88 Z
