特許
J-GLOBAL ID：200903066755023139

浮遊粒子状物質の測定方法および装置

発明者：
十時 慎一郎

十時 慎一郎 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 河▲崎▼ 眞樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-229151
公開番号（公開出願番号）：特開2003-042932
出願日： 2001年07月30日
公開日（公表日）： 2003年02月13日
要約：
【要約】【課題】 大気中の浮遊粒子状物質(SPM)や微小粒子状物質(PM2.5)の粒度分布を、粒子径10μm以上を含むより広い粒径範囲において高い分解能のもとに測定することのできる方法および装置を提供する。【解決手段】 大気をポンプ3により吸引してフィルタ1に供給することにより、このフィルタ1に大気中の浮遊粒子状物質Pを付着させ、その浮遊粒子状物質Pが付着したフィルタ1を液体によって透明化した状態で、レーザ光を照射することにより得られる回折・散乱光の空間強度分布を測定し、その測定結果から浮遊粒子状物質Pの粒度分布を求める。フィルタ1上での浮遊粒子状物質Pの密度を、レーザ回折・散乱式粒度分布測定の採用が可能な程度とすることにより、所期の目的を達成する。
請求項（抜粋）：
大気中に含まれる浮遊粒子状物質を測定する方法であって、大気をポンプにより吸引してフィルタに供給することによって当該フィルタに大気中の浮遊粒子状物質を付着させて捕集するとともに、その浮遊粒子状物質が付着したフィルタに対し、当該フィルタを液体を用いて光学的に透明化した状態で、レーザ光を照射して得られる回折・散乱光の空間強度分布を測定し、その測定結果から浮遊粒子状物質の粒度分布を求めることを特徴とする浮遊粒子状物質の測定方法。
IPC (4件)：
G01N 15/02 ,  G01N 1/02 ,  G01N 1/22 ,  G01N 15/06
FI (4件)：
G01N 15/02 A ,  G01N 1/02 P ,  G01N 1/22 S ,  G01N 15/06 D
Fターム (16件)：
2G052AA01 ,  2G052AA04 ,  2G052AA05 ,  2G052AD04 ,  2G052AD24 ,  2G052AD29 ,  2G052AD49 ,  2G052BA05 ,  2G052BA14 ,  2G052CA12 ,  2G052DA07 ,  2G052EA03 ,  2G052EC21 ,  2G052FD00 ,  2G052GA11 ,  2G052JA09
引用特許：
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM