漏洩磁束探傷法による疵検出装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：萼経夫 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-182989
公開番号（公開出願番号）：特開平11-014599
出願日： 1997年06月24日
公開日（公表日）： 1999年01月22日
要約：

【要約】【課題】ノイズ信号の変動に応じたしきい値を設定することにより、広範な疵信号の検出を可能にする。【解決手段】検出ヘッドのセンサ8の出力信号をアンプ10で増幅した後、これを二つに分けて、一方の信号aはローパスフィルタ11を通してA/D変換器13へ、他方の信号bはそのまゝA/D変換器13へ送り、A/D変換器13でサンプリングしたデータをメモリ14に蓄積する。そして、ローパスフィルタ11を通して得たサンプリングデータは配列手段16を経て演算手段18へ送り、乗算および加算を行ってノイズ信号の変動に応じたしきい値を求め、比較手段19においてこのしきい値とセンサ8からの直送データとを比較し、判定手段20において良否を判定する。

請求項（抜粋）：

被検出体を磁化する磁極および被検出体からの漏洩磁束を検出するセンサを有する検出ヘッドと、該検出ヘッドのセンサの出力信号を増幅するアンプと、該アンプの出力信号から低い周波数の信号を取り出すローパスフィルタと、前記アンプからの直送信号および前記ローパスフィルタを通したローパス信号を入力してAD変換するA/D変換器と、該A/D変換器でサンプリングしたデータを前記直送信号、ローパス信号ごとに記憶するメモリと、該メモリに記憶されたローパス信号のデータの所定数を基にしてしきい値を算出する演算手段と、該演算手段により求めたしきい値と前記メモリ内に記憶された前記直送信号のデータとを比較する比較手段とを備えたことを特徴とする漏洩磁束探傷法による疵検出装置。

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開昭62-112053
特開平3-246463
特開昭62-112053

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