特許
J-GLOBAL ID:200903066764073076

薄膜太陽電池およびその製法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 曽々木 太郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-332437
公開番号(公開出願番号):特開平6-163957
出願日: 1992年11月17日
公開日(公表日): 1994年06月10日
要約:
【要約】【目的】 長波長側の感度が向上され、しかも光劣化が小さい薄膜太陽電池およびその製法を提供する。【構成】 本発明の薄膜太陽電池は、ガラス基板1上に、透明導電膜2、PIN半導体層および裏面電極6が、この順で形成されてなる薄膜太陽電池であって、前記PIN半導体層のP層3が、薄膜多結晶P型シリコンからなり、前記PIN半導体層のI層4が、I型アモルファスシリコンからなり、前記PIN半導体層のN層5が、N型アモルファスシリコンまたはN型微結晶シリコンからなるものである。また、本発明の薄膜太陽電池の製法は、ガラス基板1上に、透明導電膜2、PIN半導体層および裏面電極6を、この順で形成する薄膜太陽電池の製法であって、前記PIN半導体層のP層3を、薄膜多結晶P型シリコンとし、前記PIN半導体層のI層4を、I型アモルファスシリコンとし、前記PIN半導体層のN層5を、N型アモルファスシリコンまたはN型微結晶シリコンとするものである。
請求項(抜粋):
ガラス基板上に、透明導電膜、PIN半導体層および裏面電極が、この順で形成されてなる薄膜太陽電池であって、前記PIN半導体層のP層が、薄膜多結晶P型シリコンからなり、前記PIN半導体層のI層が、I型アモルファスシリコンからなり、前記PIN半導体層のN層が、N型アモルファスシリコンまたはN型微結晶シリコンからなることを特徴とする薄膜太陽電池。
引用特許:
審査官引用 (29件)
  • 特開昭63-170976
  • 特開昭63-170976
  • 特開昭63-014420
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